Metrologická charakteristika strukturovaných nanosoučástek
Traceable characterisation of nanostructured devices (NEW01 - TReND)
Výzkumný tým tvoří jednak metrologické instituty - NPL, PTB, BAM (přidružená laboratoř), ČMI, INRiM a pak také dvě instituce v rámci grantů vědecké excelence (REG). Jedná se o mezinárodně významné organizace zabývající se výzkumem v oblasti polovodičových součástek - Imec a Leti.
Cílem projektu je vyvinout měření a charakterizaci s návazností fyzikálních a chemických vlastností integrovaných strukturovaných nanosoučástek nové generace. V rámci projektu se budou řešit následující otázky:
- 3D kvantitativní chemické složení (včetně nečistot),
- měření vlastností vnořených rozhraní se sub-nanometrovým hloubkovým rozlišením,
- 3D chemie nanovrstev a rozhraní včetně migrace nečistot a chemické degradace vlivem stárnutí vzorku,
- 3D optoelektrická měření domén v nanoměřítku ve vnořených vrstvách v organických fotovoltaických článcích, za účelem zvýšení efektivity článků.
ČMI (oddělení nanometrologie, Mgr. Petr Klapetek, PhD., pklapetek@cmi.cz ) se v projektu zaměřuje na modelování jevů ve fotovodivostní mikroskopii atomárních sil a příbuzných technikách.