Jste zde

Ostatní

Ostatní projekty 

Řešené

V rámci Operačního programu Podnikání a inovace pro konkurenceschopnost se Český metrologický institut podílí na řešení projektu Laserové snímače délky pro diagnostiku geometrických rozměrů a povrchových vad v přesném strojírenství, který je spolufinancován Evropskou unií - Evropským fondem pro regionální rozvoj. 

Cílem projektu je výzkum a vývoj unikátních optických metod, které dovolí v automatizovaných výrobních linkách měřit geometrické rozměry strojírenských výrobků s rozlišením blížícím se nanometrové hranici.
 

Ukončené

7AMB14ATE002 - Electrical conductivity and temperature gradient mapping in nanoscopic to microscopic scale in nanometer thick H-bonded organic layers using Organic Field Effect Transistor (OFET) and Organic Light Emitting Diode (OLED) configurations. (2014-2015, MSM/7A)

FR-TI1/168 - Barevné solární články s vysokou účinností pro architektonické aplikace (2009-2012, MPO/FR)

FR-TI1/241 - Prvky pro nanometrickou diagnostiku délkových změn, tvarových úchylek a povrchových defektů (2009-2013, MPO/FR)

FT-TA/094 - Vývoj metod pro charakterizaci defektů na površích pevných látek. (2004-2007, MPO/FT)

FT-TA3/133 - Soustava laserových interferometrů pro nanometrologii délek. (2006-2009, MPO/FT)

FT-TA3/142 - Analýza optických vlastností solárních článků. (2006-2009, MPO/FT)

FT-TA5/114 - Vývoj technologie vytváření PECVD vrstev pro výrobu automobilové světelné techniky (2008-2010, MPO/FT)

Více informací zde