Jste zde

Pushing boundaries of nano-dimensional metrology by light

Kód projektu: 20FUN02

Vysoutěžení projektu: 2020

Implementace projektu: 2021 – 2024

Vedoucí řešitel projektu: Bernd Bodermann, PTB, Německo

Účastníci projektu:

  • Danish Fundamental Metrology, DFM, Dánsko
  • Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, INRIM, Itálie
  • Physikalisch-Technische Bundesanstalt, PTB, Německo
  • FPS Economy, DG Quality and Safety, Metrology Division, SMD, Belgie
  • VSL National Metrology Institute, VSL, Nizozemsko
  • Danmarks Tekniske Universitet, Dánsko
  • Energiatudományi Kutatóközpont, Maďarsko
  • Friedrich-Schiller-Universität Jena, Německo
  • Fundacio Institut de Ciencies Fotoniques, Španělsko
  • JCMwave GmbH, Německo
  • Swansea University, Velká Británie
  • Technische Universitaet Braunschweig, Německo
  • Technische Universiteit Delft, Nizozemsko
  • Università degli Studi di Torino, Itálie

Role ČMI: financovaný JRP-partner

Hlavní řešitel ČMI: Mgr. Miroslav Valtr, Ph.D.

Web: https://www.euramet.org/research-innovation/search-research-projects/details/project/pushing-boundaries-of-nano-dimensional-metrology-by-light/?tx_eurametctcp_project%5Baction%5D=show&tx_eurametctcp_project%5Bcontroller%5D=Project&cHash=4f30b05b4d7d36cef18309c5cec9081e

Manažerské shrnutí projektu: Inovativní zařízení, jako jsou nanočipy, vysokokapacitní paměti, nové materiály a budoucí lékařské nástroje, závisí na schopnosti tvarovat hmotu v nanorozměrech. Evropská komise proto určila čtyři klíčové technologie (tj. nanotechnologie, mikro-nanoelektroniku, fotoniku a pokročilé materiály) jako strategicky důležité pro Evropskou unii (EU). Rychlý technologický pokrok těchto čtyř klíčových technologií však v současné době vytváří "metrologickou mezeru" ve srovnání s pokrokem ve vývoji metrologických metod, které jsou klíčové pro ověřování vývoje klíčových technologií. Tento projekt řeší tento problém vývojem nových metod, které pomohou překlenout tuto metrologickou mezeru a následně podpoří inovace v klíčových technologiích. Konkrétně tento projekt posune hranice optických měřicích metod tím, že vytvoří novou generaci optických metrologických systémů s bezprecedentním výkonem z hlediska prostorového rozlišení, sledovatelnosti, spolehlivosti a robustnosti.